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扫描电子显微镜,扫描电镜的放大倍数是如何得到的？

admin admin 发表于2024-03-12 19:38:38 浏览21 评论0

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扫描电子显微镜有何特点？

扫描电子显微镜不像投射电子显微镜和普通显微镜那样靠成像系统的逐级放大实现显微功能，而是靠缩小到束斑提供足够高的分辨率。扫描电子显微镜有如下特点。
(1)扫描电镜主要用以观察样品的表面结构，对样品厚度没有限制，可直接观察样品表面的三维立体结构。投射电镜虽然分辨本领很高，但一般只能获得样品的二维图像。
(2)光学显微镜和透射电镜在放大倍数增加时，焦距和景深随之减小；而扫描电镜的放大倍数增加时，焦距不变，景深也基本不减小，所以观察和照相都很方便。
(3)扫描电镜的放大率范围很广，可以从放大镜的水平(几倍)变到光学显微镜的水平(几百倍)直到透射电镜的水平(几十万倍)，因此可以认为扫描电镜填补了光学显微镜和透射电镜之间的空白。
(4)在扫描电镜中由于图像不是由透镜形成的，而是按信号顺序依次记录下来的，所以不仅避免了因透镜缺陷带来的对图像分辨率的影响，而且容易把图像记录在存储介质上作进一步处理。
(5)扫描电镜可以与各种分析技术相结合，构成分析电子显微镜(又称电子探针显微分析仪)，可以实现对样品的综合分析。
(6)它有原子量级的极高分辨率，其垂直和平行于表面方向的分辨率分别为0.01nm和0.1nm，即能够分辨出单个原子。因此，STM可以直接观测到单原子层表面的局部结构，比如表面缺陷、表面重构、表面吸附体的形态和位置等。
(7)STM能够实时地给出表面的三维图像，可以测量具有周期性或不具备周期性的表面结构。
(8)STM可在不同环境条件下工作，包括真空、大气、低温，甚至将试样浸在水中或电解液中．所以非常适用于研究环境因素对试样表面的影响。
(9)可以研究纳米薄膜的分子结构。
但是STM也有它的局限性，它的缺点主要表现在：①由于STM是通过隧道电流的作用而设计的，因此这种仪器仅能用于导体和半导体的表面形貌量测，对于非导体来说就必须给试样镀上导电膜，这就掩盖了试样表面的真实性，降低了STM的精确度。②即使导电体材料的试样，当表面存在非单一电子态时，扫描隧道显微镜观察的也并不是真实的表面形貌图像，而是表面形貌和表面电子性能的综合表现。

扫描电子显微镜的原理及应用

扫描电子显微镜工作原理
（1）扫描
电子枪产生的高能电子束入射到样品的某个部位时，在相互作用区内发生弹性散射和非弹性散射事件，从而产生背散射电子、二次电子、吸收电子、特征和连续谱X射线、俄歇电子、阴极荧光等各种有用的信号，利用合适的探测器检测这些信号大小，就能够确定样品在该电子入射部位内的某些性质，例如微区形貌或成分等。
为了研究样品上更多部位的特征，必须利用扫描系统移动入射电子到样品上的不同位置。
（2）成像
扫描电镜的成像是靠扫描作用实现的。扫描发生器同时控制高能电子束和荧光屏中的电子束“同步扫描”，当电子束在样品上进行栅格扫描时，在荧光屏上也以相同的方式同步扫描，因此“样品空间”上的一系列点就与“显示空间”逐点对应。
换言之，样品上电子束的各个位置与荧光屏上的各点确立了严格的对应关系。样品表面被电子束扫描，激发出各种物理信号，其强度与样品的表面特征有关，这些信号通过探测器按顺序、成比例地转为视频信号，经过放大，用来调制荧光屏对应点的电子束强度，即光点的亮度，这就形成了扫描电镜的图像。而图像上强度的变化反映出样品的特性。
扫描电镜成像虽然不同光镜和透射电镜那样直接由物体发出的光线或电子束成像，这种成像过程如同利用信号探测器作为摄像机，对样品表面逐点拍摄，把各点产生的信号转换到荧光屏上成像。
荧光屏上的图像实际上是由一系列灰度不同的亮点组成，这个亮点称为像素(Pixle)。像素点数越多，则图像的分辨率越高。
主要用途及适用范围
扫描电镜可应用于陶瓷材料分析、金属材料失效分析。在石油、地质、矿物领域，电子、半导体领域，医学、生物学领域，化工、高分子材料领域，公安刑侦工作领域，以及农、林业等方面都有广泛应用。
扫描电镜可进行显微形貌分析，如果配备了其它分析仪器也可进行成分的常规微区分析，包括元素定量、定性成分分析。进行显微形貌分析时，空间分辨率可达亚微米级；能够进行晶界的状态测量，或者晶体/晶粒的相鉴定，以及晶体、晶粒取向测量等；进行微区成分分析时，能够通过快速的多元素面扫描和线扫描进行分布测量。
在现代产业化生产和科学研究中，扫描电镜发展成为材料分析、监控工农业生产、保证产品质量、保障大生产流程安全高效的必要手段；同时在生物、环保、医学等有关人类的生存、发展领域的应用也日新月异；在军事现代高科技方面的发展（例如生物武器、化学武器战争、现场毒物检测、生命保障任务等）发挥了巨大的作用。

扫描电镜的原理

扫描电镜测试可以获得哪些信息?
扫描电镜是一种高分辨率的显微镜，它能够通过扫描物体表面并检测所产生的电子信号来获得有关样本的详细信息。相比传统光学显微镜，扫描电镜能够提供更高的放大倍数和更高的分辨率，因此在许多领域中被广泛应用。
一、样本表面形貌信息
通过扫描样本表面并记录所产生的电子信号，扫描电镜能够生成高分辨率的图像，显示样本表面的微观结构和形貌。这对于研究材料的表面特征、纹理和形态非常有用。它可以帮助研究人员观察材料的晶体结构、表面缺陷和形貌特征，从而进一步理解其性质和行为。
二、样本元素组成信息
扫描电镜配备了能量色散X射线光谱仪（简称EDS），通过分析样本所产生的X射线能谱可以确定样本中的元素组成。这对于确定样本的化学成分、分析材料的组成和纯度非常重要。它可以帮助研究人员分析矿石、岩石和合金等材料的成分，从而确定其用途和性能。
三、样本表面电荷分布信息
扫描电镜可以观察到样本表面的电子信号分布情况，从而了解样本表面的电荷状态。这对于研究电子器件、纳米材料和生物样本等具有电荷特性的样品非常重要。它可以帮助研究人员观察电子器件表面的电荷分布情况，从而优化器件的设计和性能。
四、总结
扫描电镜测试是一种非常有用的技术，它可以提供关于样本表面形貌、元素组成和电荷分布等方面的详细信息。在材料科学、地质学、生物学、电子工程等领域中，扫描电镜测试被广泛应用于研究和分析样本的微观特征和性质。随着技术的不断发展，扫描电镜在未来将继续发挥重要作用，并为科学研究和工业应用提供更多有价值的信息。
扫描电镜的原理如下：
一、透射电子显微镜
透射电镜即透射电子显微镜通常称作电子显微镜或电镜，是使用最为广泛的一类电镜。
1、工作原理：在真空条件下，电子束经高压加速后，穿透样品时形成散射电子和透射电子，它们在电磁透镜的作用下在荧光屏上成像。电子束投射到样品时，可随组织构成成分的密度不同而发生相应的电子发射，如电子束投射到质量大的结构时，电子被散射的多，因此投射到荧光屏上的电子少而呈暗像，电子照片上则呈黑色。
2、主要优点：分辨率高，可用来观察组织和细胞内部的超微结构以及微生物和生物大分子的全貌。
二、扫描电镜
扫描电镜即扫描电子显微镜，主要用于观察样品的表面形貌、割裂面结构、管腔内表面的结构等。
1、工作原理：扫描电镜是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。用极细的电子束在样品表面扫描，激发样品表面放出二次电子，将产生的二次电子用特制的探测器收集，形成电信号运送到显像管，在荧光屏上显示物体。(细胞、组织)表面的立体构像，可摄制成照片。
2、主要优点：景深长，所获得的图像立体感强，可用来观察生物样品的各种形貌特征。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜
扫描电子显微镜，简称扫描电镜，英文名为Scanning Electron Microscope，缩写为SEM，是利用高能量的电子束在固体样品表面扫描，激发出二次电子、背散射电子、X射线等物理信号，从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。
扫描电镜，按其功能划分，由电子光学系统、信号检测和放大系统、扫描系统、图像显示和记录系统、真空系统以及电源系统等六个部分组成（图5-1）。由电子枪发出，经电磁透镜会聚的电子束，由扫描线圈控制在固体样品表面作光栅式扫描，入射至样品中数微米深的范围内。这些高能电子与样品中原子相互作用后，使样品内产生二次电子、背散射电子、X射线等物理信号。
在入射电子的作用下从固体样品中射出的，能量小于50e V的电子都称为二次电子（Secondary Electron，常以缩写SE表示）。大部分二次电子的能量在3～5e V之间。背散射电子（Backscattered Electron，常以缩写BE表示）是被固体样品原子反射回来的入射电子，所以有时又称为反射电子（reflected electron，请勿称作背反射电子），其能量与入射电子的能量相等或接近相等。
图5-1 扫描电子显微镜的结构（未显示电源系统）
扫描电镜中的成像与闭路电视的成像相似。样品中产生的二次电子、背散射电子等物理信号可分别由检测器逐点逐行采集，并按顺序和成比例地将物理信号进行处理后输送到阴极射线管的栅极调制其亮度，显示出样品的图像。扫描电镜镜筒中的电子束在样品表面的扫描与阴极射线管中电子束在成像平面上的扫描是同步的。因此，阴极射线管上的图像与样品实物是逐点逐行一一对应的。由于样品表面各部位的形貌、成分和结构等的差异，被激发的二次电子、背散射电子数量有所不同，从而在阴极射线管上形成反映样品表面特征的明暗不同的图像。因此，扫描电镜的图像是一种衬度图像，并不是彩色图像。早期的扫描电镜图像是模拟图像，由照相底片记录。近年来图像均已数字化，可由计算机储存和显示。
由于二次电子能量较低，在距离表面10nm以上的样品内部产生的二次电子几乎全被邻近的原子吸收而无法逸出样品被检测器检测到。因此，二次电子像所反映的信息完全是样品表面的特征，是扫描电镜中使用最多的图像（图5-2）。
扫描电镜图像的特点是：① 放大倍数范围大，其有效放大倍数可从数十倍至十万倍，基本上概括了放大镜、光学显微镜至透射电镜的放大倍数范围。②分辨率高，景深大，立体感强。其二次电子图像的分辨率已达3nm，比光学显微镜约高5个数量级。在同一放大倍数下扫描电镜图像的景深比光学显微镜的景深大10～100倍。
图5-2 草莓状黄铁矿的扫描电子图像
扫描电镜对样品的基本要求是：①样品必须是干燥、清洁的固体，在高能电子束的轰击下不变形，不变质，并能经受住真空的压力。②样品必须导电。不导电的样品可在表面喷镀一层导电膜。近几年有些不导电的样品在数百伏的低加速电压下也能进行观察。因此，光片、没有盖玻璃的薄片以及断面等都能在扫描电镜中进行观察。对样品的大小也没有严格的要求，观察面积约1cm2，样品高度小于1cm较为适中。
近年来绝大多数扫描电镜都配备X射线能谱仪，有时还可配备电子背散射衍射部件，在观察图像的同时还可在原地进行微区的成分和结构分析。详情请见本章第三节和第四节的相关部分。
扫描电镜图片如何分析
第一、扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。
一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。
第二、看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低。非常薄的薄膜，背散射电子会造成假像。导电性差时，电子积聚也会造成假像。
扫描电镜图片上10 40SEI是什么意思啊
是透射型电子显微镜！
透射电镜是通过透射过样本和放大产生的电子束，投射到照相胶片或在荧光屏观察聚焦的物体的图像。的0.10.2nm的透射电子显微镜的分辨率，在数万的倍率至几十倍。由于电子散射或容易被物体吸收，所以低渗透，必须制备超薄切片较薄（通常为50100nm的）。制备过程类似于石蜡切片，但需要非常严格的。为了赶上了几分钟后，引起了身体的亡，组织块要小（小于1立方毫米），常用戊二醛和饿了双固定酸树脂包埋，切成薄片继发特殊的超薄机（超微）电子切片，然后用乙酸双氧铀和柠檬酸铅染色
电子扫描型电子显微镜的电子束扫描在样品表面微细，得到的与一个特殊的检测器，一个电信号被形成输送到阴极在屏幕上射线管显示对象。三维构象（细胞，组织）的表面，照片可以生产。 SEM样品用戊二醛固定和饿酸，脱水和临界点干燥，然后喷涂一薄层的金的试样膜的表面上之后，为了增加在两波的电子的数量。扫描型电子显微镜来观察较大的组织的表面上的结构，因为场深度长，1毫米可以清楚的图像的不平坦表面，这样就把样品富有立体感的图像。
SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思
可以从扫描电镜图中看到纳米管的结构，我之前做二氧化钛纳米管，用扫描电镜可以直接看到
。
扫描电镜中的的参数，分别有：放大倍数，长度标尺，工作电压和工作距离。

sem什么意思

sem的意思是：扫描式电子显微镜。
扫描电子显微镜是一种基于电子束和样品相互作用原理的高分辨率显微镜。与传统的光学显微镜不同，SEM使用电子束来扫描样品表面，并通过检测和记录电子束与样品的相互作用信号来获得高清晰度的图像。
SEM具有极高的分辨率和深度，可以观察到大多数材料和样品的表面形态、结构和成分，并且可以通过扩大图像来提供更详细的信息。其分辨率一般在纳米至亚纳米级别，是传统光学显微镜无法比拟的。同时，SEM还可以进行化学成分分析、表面形貌分析等多种分析测试。
SEM的工作原理是，样品放置在SEM样品台上，由电子枪产生的电子束在样品表面上扫描，同时检测和记录电子与样品相互作用的信号，再通过电子透镜和荧光屏转换成图像。SEM需要在真空环境下工作，因此需要对样品进行预处理，去除水分和气体等物质。
扫描电子显微镜的优势：
1、高分辨率：相比传统的光学显微镜，扫描电子显微镜具有更高的分辨率。一般来说，SEM的分辨率可以达到纳米至亚纳米级别，这使得SEM可以观察到更细微的结构和表面形态。
2、可观察更广泛的样品类型：相比传统的光学显微镜，SEM不仅可以观察到有机物和无机物，也能够观察到半导体、陶瓷和金属等不同类型的材料。
3、能够进行化学分析：SEM还可以配合能谱仪（EDS或WDS）等设备来进行样品化学成分的分析，这使得SEM不仅能够观察到样品表面形态，还可以观察样品的元素分布情况。
4、 三维重建：通过不同角度的扫描，SEM可以对样品进行三维重建，这使得观察更加直观、全面。
5、显示效果生动：通过SEM的成像方式（扫描电子束与样品的相互作用信号），SEM成像的效果更加生动、直观，不仅能够显示样品表面的形态，还可以显示出样品表面的微观结构和质感。

电子显微镜的六种类型是什么意思？

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、
一、名称不同
1、SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。
2、TEM，英文全称：TransmissionElectronMicroscope，中文称：透射电子显微镜。
3、XRD，英文全称：Diffractionofx－rays，中文称：X射线衍射。
4、AES，英文全称：AugerElectronSpectroscopy，中文称：俄歇电子能谱。
5、STM，英文全称：ScanningTunnelingMicroscope，中文称：扫描隧道显微镜。
6、AFM，英文全称：AtomicForceMicroscope，中文称：原子力显微镜。
二、工作原理不同
1．扫描电子显微镜的原理是用高能电子束对样品进行扫描，产生各种各样的物理信息。通过接收、放大和显示这些信息，可以观察到试样的表面形貌。
2．透射电子显微镜的整体工作原理如下：电子枪发出的电子束经过冷凝器在透镜的光轴在真空通道，通过冷凝器，它将收敛到一个薄，明亮而均匀的光斑，辐照样品室的样品。通过样品的电子束携带着样品内部的结构信息。通过样品致密部分的电子数量较少，而通过稀疏部分的电子数量较多。
物镜会聚焦点和一次放大后，电子束进入第二中间透镜和第一、第二投影透镜进行综合放大成像。最后，将放大后的电子图像投影到观察室的荧光屏上。屏幕将电子图像转换成可视图像供用户观察。
3、x射线衍射（XRD）的基本原理：当一束单色X射线入射晶体，因为水晶是由原子规则排列成一个细胞，规则的原子之间的距离和入射X射线波长具有相同的数量级，因此通过不同的原子散射X射线相互干涉，更影响一些特殊方向的X射线衍射，衍射线的位置和强度的空间分布，晶体结构密切相关。
4．入射的电子束和材料的作用可以激发原子内部的电子形成空穴。从填充孔到内壳层的转变所释放的能量可能以x射线的形式释放出来，产生特征性的x射线，也可能激发原子核外的另一个电子成为自由电子，即俄歇电子。
5．扫描隧道显微镜的工作原理非常简单。一个小电荷被放在探头上，电流从探头流出，穿过材料，到达下表面。当探针通过单个原子时，通过探针的电流发生变化，这些变化被记录下来。
电流在流经一个原子时涨落，从而非常详细地描绘出它的轮廓。经过多次流动后，人们可以通过绘制电流的波动得到构成网格的单个原子的美丽图画。
6．原子力显微镜的工作原理：当原子间的距离减小到一定程度时，原子间作用力迅速增大。因此，样品表面的高度可以直接由微探针的力转换而来，从而获得样品表面形貌的信息。
三、不同的功能
1．扫描电子显微镜（SEM）是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法，可以直接利用样品表面材料的材料性质进行微观成像。
扫描电子显微镜具有高倍放大功能，可连续调节20000～200000倍。它有一个大的景深，一个大的视野，一个立体的形象，它可以直接观察到各种样品在不均匀表面上的细微结构。
样品制备很简单。目前，所有的扫描电镜设备都配备了x射线能谱仪，可以同时观察微观组织和形貌，分析微区成分。因此，它是当今非常有用的科学研究工具。
2．透射电子显微镜在材料科学和生物学中有着广泛的应用。由于电子容易散射或被物体吸收，穿透率低，样品的密度和厚度会影响最终成像质量。必须制备超薄的薄片，通常为50～100nm。
所以当你用透射电子显微镜观察样品时，你必须把它处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常挂在预处理过的铜线上观察。
3X射线衍射检测的重要手段的人们意识到自然，探索自然，尤其是在凝聚态物理、材料科学、生活、医疗、化工、地质、矿物学、环境科学、考古学、历史、和许多其他领域发挥了积极作用，不断拓展新领域、新方法层出不穷。
特别是随着同步辐射源和自由电子激光的兴起，x射线衍射的研究方法还在不断扩展，如超高速x射线衍射、软x射线显微术、x射线吸收结构、共振非弹性x射线衍射、同步x射线层析显微术等。这些新的X射线衍射检测技术必将为各个学科注入新的活力。
4，俄歇电子在固体也经历了频繁的非弹性散射，可以逃避只是表面的固体表面原子层的俄歇电子，电子的能量通常是10～500电子伏特，他们的平均自由程很短，约5～20，所以俄歇电子能谱学调查是固体表面。
俄歇电子能谱通常采用电子束作为辐射源，可以进行聚焦和扫描。因此，俄歇电子能谱可用于表面微观分析，并可直接从屏幕上获得俄歇元素图像。它是现代固体表面研究的有力工具，广泛应用于各种材料的分析，催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。
5．当STM工作时，探头将足够接近样品，以产生具有高度和空间限制的电子束。因此，STM具有很高的空间分辨率，可以用于成像工作中的科学观测。
STM在加工的过程中进行了表面上可以实时成像进行了表面形态，用于查找各种结构性缺陷和表面损伤，表面沉积和蚀刻方法建立或切断电线，如消除缺陷，达到修复的目的，也可以用STM图像检查结果是好还是坏。
6．原子力显微镜的出现无疑促进了纳米技术的发展。扫描探针显微镜，以原子力显微镜为代表，是一系列的显微镜，使用一个小探针来扫描样品的表面，以提供高倍放大。Afm扫描可以提供各类样品的表面状态信息。
与传统显微镜相比，原子力显微镜观察样品的表面的优势高倍镜下在大气条件下，并且可以用于几乎所有样品（与某些表面光洁度要求）并可以获得样品表面的三维形貌图像没有任何其他的样品制备。
扫描后的三维形貌图像可进行粗糙度计算、厚度、步长、方框图或粒度分析。

扫描电镜的放大倍数是如何得到的？

拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数【点击了解产品详情】扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）。有需要可以关注下蔡司显微镜。蔡司显微镜从属的北京普瑞赛司仪器有限公司与分布在世界各地的经销商一样，普瑞赛司在中国建立了完善的研发、销售以及服务一体化的现代化管理体系，以精密的仪器、精细的销售、精准的市场、精确的售后为企业核心，为中国用户带来国际品质的精密产品和专业服务。

扫描电子显微镜的工作原理

扫描电子显微镜的工作原理：
扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。
扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）。
扩展资料：
研发历程：
1873 Abbe 和Helmholfz 分别提出解像力与照射光的波长成反比。奠定了显微镜的理论基础。
1931德国物理学家Knoll 及Ruska 首先发展出穿透式电子显微镜原型机。
1938 第一部扫描电子显微镜由Von Ardenne 发展成功。
1959年第一台100KV电子显微镜 1975年第一台扫描电子显微镜DX3 在中国科学院科学仪器厂（现北京中科科仪技术发展有限责任公司）研发成功。
参考资料来源：百度百科——扫描电子显微镜

原子力显微镜和扫描电镜的异同点

原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。
1、共同点：都是放大。【点击了解产品详情】2、不同点：原子力显微镜，一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。如果您有需要的话，可以咨询蔡司显微镜。蔡司显微镜从属的北京普瑞赛司仪器有限公司，专业从事理化测试仪器及相关产品的研发、销售、技术咨询，是德、英、美、瑞士等多家仪器生产商在中国地区的授权经销商。我们凭着丰富的专业知识及多年销售产品的宝贵经验建立起一个技术力量雄厚、涵盖产品广泛的销售网络。
原子力显微镜和扫描电镜的异同点：1、共同点：都是放大。2、不同点：1）、原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。2）扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。想要了解更多关于原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。尤其Park原子力显微镜的Park X20。Park NX20具备独一无二的功能，可快速帮助客户找到产品失效的原因，并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案；无与伦比的精密度为带来高分辨率数据，让您能够更加专注于工作。与此同时，真正非接触扫描模式让探针尖端更锋利、更耐用，无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和金钱。