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x射线荧光光谱仪,珠宝宝石用X射线荧光光谱仪简介

admin admin 发表于2024-03-01 17:58:48 浏览20 评论0

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X射线荧光光谱仪的作用是什么？

X射线荧光光谱仪的作用可是不容小觑的，它能够检测出材料中的元素成分，帮助更好地了解材料的性质和特点。这对于工业制造、环保监测、地质勘探等领域来说可是非常重要的工具。提到X射线荧光光谱仪，就不能不提奥林巴斯这个品牌，作为百年老牌产品，检测技术非常先进，产品性能稳定可靠。我自己也使用过奥林巴斯X射线荧光光谱仪，它的检测精准度非常高，可以轻松地分析出材料中的各种元素成分。而且，奥林巴斯X射线荧光光谱仪还非常便携，方便携带，可以随时随地进行检测。
作用还是挺多的，它能够快速准确地检测出材料中的元素种类和含量，为一些科研相关单位提供精准的数据支持。就拿业内比较知名的奥林巴斯X射线荧光光谱仪来说，产品性能卓越、稳定可靠、操作简单、易于使用，我用过奥林巴斯X射线荧光光谱仪进行矿石质量检测，检测结果非常准确，而且分析速度也非常快，让我能够及时地掌握矿石的质量情况，是很有帮助的一款检测仪器。
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，XRF）是一种用于分析样品中元素成分的仪器。它的作用主要包括以下几个方面：
1. **元素分析：** X射线荧光光谱仪可以用来快速、准确地分析样品中的元素成分。通过照射样品表面，样品中的原子会吸收X射线并发射出荧光辐射，通过测量这些荧光的特征能量，可以确定样品中的元素种类和相对含量。
2. **非破坏性分析：** XRF是一种非破坏性的分析技术，样品在分析过程中不需要被破坏。这对于珍贵的文物、考古样品等有着重要的应用，因为它允许在不损坏样品的情况下获取元素信息。
3. **广泛应用：** X射线荧光光谱仪可以应用于多种领域，包括地质学、矿物学、环境科学、材料科学、金属分析等。它在质量控制、研究和勘探中都有广泛的应用。
4. **高灵敏度：** XRF技术具有高灵敏度，可以检测到样品中的微量元素，因此在需要进行微量分析的场合也能够发挥作用。
总体而言，X射线荧光光谱仪是一种强大的分析工具，可以提供关于样品中元素组成的详细信息，有助于科学研究和实际应用中的元素分析工作。

X射线荧光光谱仪有哪些品牌？

X射线荧光光谱仪进口品牌挺多的，我个人比较推荐奥林巴斯X射线荧光光谱仪。不说别的，之前用它测过很多元素含量，从轻元素到重元素的所有元素，如钾（K）、钙（Ca）、镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、铁（Fe）等都分析得非常专业与精准，而且效率很高。总之，奥林巴斯的X射线荧光光谱仪不仅性能卓越、稳定可靠，而且操作简单、坚固耐用。
X射线荧光光谱仪是一种非常重要的分析仪器，广泛应用于材料检测、环保监测、地质勘探等领域。全球有许多知名的品牌，如奥林巴斯、布鲁克、赛默飞等。
奥林巴斯这个品牌都不陌生了，在市场上有很高的知名度和用户口碑。奥林巴斯X射线荧光光谱仪产品性能稳定可靠，能检测多种元素含量，有高精准度的分析能力，可以快速、准确和无损地进行元素分析。如果需要一款高性能、高品质的X射线荧光光谱仪，奥林巴斯绝对是一个值得考虑的选择。

X射线荧光光谱仪原理？

对于X射线荧光有一个通俗易懂的解释：我们知道所有的物质都是由原子构成的。当原子收到外界能量刺激（X射线光照射）之后会由基态被激发成激发态，这个激发态的原子是不稳定，在短时间内（10^-12s-10^-14s）就会向外辐射能量，这便是荧光。而对于不同的原子来说，它们发出的荧光是不同的，具有特异性。因此我们可以根据发出的荧光波长或者能量来判断有什么原子。根据荧光能量的强度来判断原子的含量有多少。
X射线荧光光谱仪就是利用这个原理进行对物品所含原子的测量。而现有的X射线荧光光谱仪包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX）、波长色散型X射线荧光光谱仪（WDX）。
对于X射线荧光光谱仪还有什么问题，欢迎向领|拓|仪|器|提出。

珠宝宝石用X射线荧光光谱仪简介

现代高新科技的发展，促进了新的合成及人造宝石及优化处理宝石品种的相继面市。一些合成宝石与天然宝石之间的差别日趋缩小，一些优化处理宝石的表面及内部特征与天然宝石相差无几，使得宝玉石鉴定中的一些疑难、热点问题应运而生。一些传统、常规的宝石鉴定仪器及鉴定方法已难以满足珠宝鉴定的要求。接下来小编给大伴详细说一下X射线荧光光谱仪简介，基本原理、应用，相信定会是您想要的答案。
自从1895年伦琴(RoentgenWC)发现X射线之后不久，莫斯莱(MoseleyHG)于1913年发表了第一批X射线光谱数据，阐明了原子结构和X射线发射之间的关系，并验证出X射线波长与元素原子序数之间的数学关系，为X射线荧光分析奠定了基础。1948年由弗里特曼和伯克斯设计出第一台商业用波长色散X射线光谱仪。自20世纪60年代后，由于电子计算机技术、半导体探测技术和高真空技术日新月异，促使X射线荧光分析技术的进一步拓展。X荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技术，已广泛应用于宝石矿物、材料 科学、地质研究、文物考古等诸多领域。
基本原理
X射线是一种波长(λ=0.001——10nm)很短的电磁波，其波长介于紫外线和Y射线之间。在高真空的x射线管内，当由几万伏高电压加速的一束高速运动的电子流投射到阳极金属靶(如钨靶、铜靶等)上时，电子的动能部分转变成x光辐射能，并以x射线形式辐射出来。从金属靶射出的X射线主要由两类波长、强度不等的x射线组成，即连续x射线谱及特征x射线谱。前者指在x射线波长范围内，由其短波限开始并包括各种x射线波长所
组成的光谱。后者则指当加于x光管的高电压增至一定的临界数值时，使高速运动的电子动能足以激发靶原子的内层电子时，便产生几条具一定波长且强度很大的谱线，并叠加在连续x射线谱上，由特征x射线组成的光谱称为特征x射线谱。
特征x射线谱源自原子内层电子的跃迁。当高速运动的电子激发原子内层电子，而导致x射线的产生，这种X射线称为“初级X射线”。若以初级x射线为激发手段，用以照射宝石样品，会造成宝石的原子内的电子发生电离，使内层轨道的电子脱离原子，形成一个电子空位，原子处于“激发态”，这样外层电子就会自动向内层跃迁，填补内层电子空位，进而发射出一定能量的x射线。由于它的波长和能量与原来照射的x射线不同，即发出“次级X射线”。人们将这种由于x射线照射宝石而产生的次级x射线称X射线荧光。通常，X射线荧光只包含特征X射谱线，而缺乏连续X射线谱。 当能量高于原子内层电子结合能的高能x射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12——10-14秒，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为弛豫过程。弛豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃人内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。
K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线。由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Ka射线，由M层跃迁到K层辐射的X射线叫K?射线。同样，L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK一EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Ka射线，同样还可以产生K?射线、L系射线等。
莫斯莱(MoseleyHG，1913)发现，X射线荧光的波长入与元素的原子序数Z有关，随着元素的原子序数的增加，特征x射线有规律的向短波长方向移动。他根据这种谱线移动规律，建立了关于X射线波长与其元素原子序数的关系定律，其数学关系如下：
λ=K(Z-S)-2
式中K和S是常数。因此，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
应用
由于x射线荧光光谱仪适用于各种宝石的无损测试，具有分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光x射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便：分析浓度范围较宽，从常量到微量都可分析(重元素的检测限可达10-6量级，轻元素稍差)；分析快速、准确、无损等优点，近年来受到世界各大宝石研究所和宝石检测机构所重视并加以应用。
(一)鉴定宝石种属
自然界中，每种宝石具有其特定的化学成分，采用x射线荧光光谱仪可分析出所测宝石的化学元素和含量(定性—半定量)，从而达到鉴定宝石种属的目的。例如，下图显示马达加斯加粉红色绿柱石中含少量Cs、Rb等致色元素，故可确定其为铯绿柱石。
(二)区分某些合成和天然宝石 由于部分合成宝石生长的物化条件、生长环境、致色或杂质元素与天然宝石之间存在 一定的差异，据此可作为鉴定依据。如早期的合成欧泊中有时含有天然欧泊中不存在的Zr元氯合成蓝色尖晶石中存在Co致色元素，而天然蓝色尖晶石中存在Fe杂质致色元素；采用焰熔法合成的黄色蓝宝石中普遍含有天然黄色蓝宝石中缺乏的Ni 杂质元素，合成钻 石中有时存在Fe、Ni或Cu等触媒剂成分等。
(三)鉴别某些人工处理宝玉石
采用x射线荧光光谱仪有助于快速定性区分某些人工处理宝石。如近期珠宝市场上面市的Pb玻璃充填处理红宝石中普遍富含天然红宝石中几乎不存在的Pb杂质元素；同理，熔合再造处理翡翠中富含天然翡翠中不存在的Pb杂质元素；有些染色处理黑珍珠中富含Ag元素，下图显示染色黑珍珠中染色剂为硝酸银化合物。

X射线荧光光谱仪的基本原理是什么？

背散射电子：入射电子被固体样品原子核反弹回来的一部分入射电子。来自样品表层几百纳米的深度范围，它的产额随着原子序数的增大而增大，因此既可以做成分分析，也可以做形貌分析，但分辨率较低，约50-200nm。
二次电子：入射电子束将原子核外电子撞击，使其脱离轨道并离开样品表面。一般在表层5-10nm激发出来，因此很适合显示样品表面形貌，做断口观察。
3.吸收电子：入射电子进入试样，多次弹射后能量损失被样品吸收。吸收电子也可以用作定性的微区成分分析，是因为 吸收电子=入射电子-背散射电子-二次电子，即原子序数大的吸收电子少。
4.透射电子：若样品很薄，部分电子穿过试样成为透射电子。因此，对于薄样，可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
5：特征X射线：样品内层电子被入射电子激发后，外层电子会向内层跃迁以填补空位，这时就会释放具有特征能量的X射线。当用X射线探测器探测到微区的特征波长，就可以以此来进行元素判定。
6：俄歇电子：样品内层电子被入射电子激发后，外层电子会向内层跃迁以填补空位，这时如果不发出X射线，就会把空位层的另一电子发射出去，这个被电离的电子就叫俄歇电子，仅适用于做表层1nm左右的成分分析。
更多原理，可以参考《材料分析测试技术》——哈尔滨工业大学出版社。

有哪些知名的X射线荧光光谱仪品牌？

奥林巴斯，一个国际知名的百年进口品牌，它的X射线荧光光谱仪知名度可是相当高，行业内在做工业检测的朋友都是用的这个牌子的X射线荧光光谱仪，质量很好，就算是磕磕碰碰也不会很轻易损坏。而且奥林巴斯X射线荧光光谱仪检测速度在行业内也是很快的，能节省许多时间，高效完成工作。
推荐奥林巴斯。他家的产品我用了两年了，非常好。特别是奥林巴斯X射线荧光光谱仪Vanta，它有两种不同的型号，分别适用于不同的检测环境，可以满足不同的使用需求。而且还在这些型号中设计了专门保护X射线探测器工作的快门闸，安全性能什么的都是非常高的，使用起来也非常的放心。

精密仪器之X射线荧光光谱仪

简介：

X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。



使用型态：

XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

X射线荧光的物理原理：

当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。

X射线荧光光谱法在化学分析：

主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以分析从轻元素的钠（z=11）到铀，而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。

xrf测试是测试什么的

xrf测试是测试什么的介绍如下：
XRF测试是一种用于测量和量化材料表面处理中化学元素含量的先进技术。
XRF测试的全称为X射线荧光光谱仪。XRF测试支持两种分析方式:定性分析和定量分析，定性分析的物理基础就是莫塞莱定律，通过不同元素的特征X荧光找到对应元素；定量分析是将未知样的荧光强度与用来建立校正曲线的标准样品的荧光强度和相对应的浓度建立相应关系，以此求得未知样的浓度。
可测元素范围：常规测试范围11Na-92U，部分仪器可以测到O元素，如果需要测到O需要备注好
制样方法：压片、融片。
结果模式：单质、氧化物。
一般是半定量测试，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。
常见问题
1.为什么要求XRF测试粉末样品用量最好达到3g以上？
因为需要和淀粉一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多淀粉容易导致结果不准确。
2.为什么XRF测试要求薄膜（块体）样品尺寸直接要大于2.5 cm？
因为放置薄膜（块体）样品需要放进测试槽，测试槽的直径是2.5 cm，如果样品太小会固定不了。
3.XRF测试可以精确到多少？
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，仅作为元素含量百分比的参考。
4.样品能不能回收？
粉末样无法回收，会采用硼酸压片法，污染样品。

进口X射线荧光光谱仪品牌有哪些？

品牌还是蛮多的，但是我只用过奥林巴斯这个牌子的进口X射线荧光光谱仪，挺不错的。如Vanta、Vanta iX等，它们的区别从外观上看，Vanta是一个手持式的设计，而Vanta iX不是手持式的设计，更多的比较类似于正方体或者长方体的设计。Vanta和Vanta iX在性能上和应用领域方面也不太一样，你可以到奥林巴斯官网了解一下更多的详细信息。
我认为奥林巴斯的比较好。奥林巴斯这个牌子我估计业内人士都知道，它可以说是工业检测领域比较“前辈”的品牌了，拥有百年的发展历史，而且在国际上的影响力、竞争力还是蛮高的，旗下的产品都是比较有特点的，在市场上面的应用比较广，口碑也比较好。而且奥林巴斯整体研发实力是非常强的，未来肯定还会推出更多的X射线荧光光谱仪新产品。

什么是单波长X射线荧光光谱仪？

单波长色散X射线荧光光谱仪是一种用于化学领域的分析仪器。
普通EDXRF是手持式能量色散型X射线荧光分析仪。
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。
单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前进行了X射线光的单色化入射，主要依靠双曲面弯晶或者二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降低了由于X射线管出射谱韧致辐射照射样品而产生的背景干扰，获得较佳的元素荧光信号峰背比。严格说来，单波长X射线荧光光谱仪也分为单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪和单波长激发-波长色散X射线荧光光谱仪两类。
由于单波长X射线荧光光谱仪获得较佳的元素分析性能（尤其在灵敏度方面），是当前X射线荧光领域研发的重点。